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Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀 型號:SURTRONIC DUO 探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng) 表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm 掃描路徑:5mm 表面粗糙度分辨率:0.01μm 閾值波長:0.8 mm